PCB高低溫老化試驗箱  高低溫老化試驗箱方法                                                                                                PCB高低溫老化試驗箱是一種用于模擬產(chǎn)品在不同溫度下長(cháng)期運行的試驗設備。其主要作用是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫環(huán)境下的穩定性和可靠性，以便于產(chǎn)品設計者對產(chǎn)品進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。該試驗箱通常由溫度控制系統、加熱裝置、制冷裝置、溫度傳感器、數據采集系統等組成。在測試過(guò)程中，將待測的PCB或電子元器件放入試驗箱內，通過(guò)控制溫度和時(shí)間，模擬不同環(huán)境下的長(cháng)期使用情況，觀(guān)察產(chǎn)品在不同溫度下的性能和穩定性變化。

通過(guò)PCB高低溫老化試驗箱的測試，可以有效評估產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的可靠性和穩定性，為產(chǎn)品設計和制造提供重要參考。                                                                                                                                                                          一、設備簡(jiǎn)介：

豪恩系列高低溫試驗箱適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫療…等制品檢測質(zhì)量之用。專(zhuān)門(mén)測試各種材料耐熱、耐寒的性能。本機可選擇中文或英文液晶顯示觸控式屏幕畫(huà)面，操作簡(jiǎn)單，程序編輯容易，人性化設計?？娠@示完整的系統操作狀況相關(guān)數據、執行及設定程序曲線(xiàn)。運轉中發(fā)生異常狀況，屏幕即刻自動(dòng)報警，顯示故障原因及提供排除故障方法。

二、滿(mǎn)足標準：

GB5170、2、3、5、6-2017、GB 2423.1-2001 (IEC68-2-1)、GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)、GB/T 2423.3-2016（IEC68-2-3）、GB/T2423.4-2008(IEC68-2-30)、GJB150.3(ML-STD0-810D)、GJB150.4(MIL-STD-810D)、GJB150.9-2009、GJB4.5-1983、GJB4.6-1983、GJB367.2-1987、GJB360.8-2009、GB/T5170.2-2017、GB/T5170.5-2016、GB10592-2008、GB10586-2006等

三、主要技術(shù)指標：

27升（桌上型）： 300×300×300（mm）

AC 單相 三線(xiàn) 220V 50HZ

HE-GD-27A7 0℃～+150℃

HE-GD-27B7 -20℃～+150℃

HE-GD-27C7 -40℃～+150℃

HE-GD-27D7 -60℃～+150℃

HE-GD-27E7 -70℃～+150℃

HE-GD-27F7 -80℃～+180℃

80升： 400×500×400（mm）

AC 單相 三線(xiàn) 220V 50HZ

HE-GD-80A7 0℃～+150℃

HE-GD-80B7 -20℃～+150℃

HE-GD-80C7 -40℃～+150℃

HE-GD-80D7 -60℃～+150℃

HE-GD-80E7 -70℃～+150℃

HE-GD-80F7 -80℃～+180℃

100升： 500×500×400（mm）

AC 單相 三線(xiàn) 220V 50HZ

HE-GD-100A7   0℃～+150℃

HE-GD-100B7   -20℃～+150℃

HE-GD-100C7   -40℃～+150℃

HE-GD-100D7   -60℃～+150℃

HE-GD-100E7   -70℃～+150℃

HE-GD-100F7   -80℃～+180℃

150升： 500×600×500（mm）

AC 單相 三線(xiàn) 220V 50HZ

HE-GD-150A7  0℃～+150℃

HE-GD-150B7 -20℃～+150℃

HE-GD-150C7 -40℃～+150℃

HE-GD-150D7 -60℃～+150℃

HE-GD-150E7 -70℃～+150℃

HE-GD-150F7 -80℃～+180℃

225升： 500×750×600（mm）

AC 三相 五線(xiàn) 380V 50HZ

HE-GD-225A7  0℃～+150℃

HE-GD-225B7 -20℃～+150℃

HE-GD-225C7 -40℃～+150℃

HE-GD-225D7 -60℃～+150℃

HE-GD-225E7 -70℃～+150℃

HE-GD-225F7 -80℃～+180℃

408升： 800×850×600（mm）

AC 三相 五線(xiàn) 380V 50HZ

HE-GD-408A7  0℃～+150℃

HE-GD-408B7 -20℃～+150℃

HE-GD-408C7 -40℃～+150℃

HE-GD-408D7 -60℃～+150℃

HE-GD-408E7 -70℃～+150℃

HE-GD-408F7 -80℃～+180℃

800升： 1000×1000×800（mm）

AC 三相 五線(xiàn) 380V 50HZ

HE-GD-800A7  0℃～+150℃

HE-GD-800B7 -20℃～+150℃

HE-GD-800C7 -40℃～+150℃

HE-GD-800D7 -60℃～+150℃

HE-GD-800E7 -70℃～+150℃

HE-GD-800F7 -80℃～+180℃

1000升： 1000×1000×1000（mm）

AC 三相 五線(xiàn) 380V 50HZ

HE-GD-1000A7 0℃～+150℃

HE-GD-1000B7 -20℃～+150℃

HE-GD-1000C7 -40℃～+150℃

HE-GD-1000D7 -60℃～+150℃

HE-GD-1000E7 -70℃～+150℃

HE-GD-1000F7 -80℃～+180℃

控制精度： ±0.2℃

均勻度： ≤2.0℃

升溫速率： 平均3℃/min（非線(xiàn)性、空載時(shí)；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；

降溫速度： 平均1℃/min（非線(xiàn)性、空載時(shí)；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；

內箱材質(zhì)： SUS 304鏡面不銹鋼

外箱材質(zhì)： 紗面不銹鋼或冷鋼板烤漆處理

制冷系統： 采用法國泰康/日本三洋/美國谷輪/德國比澤爾/德國博客等一線(xiàn)制冷壓縮機

制冷劑： 環(huán)保冷媒R404A和R23

冷卻方式： 鰭片式冷凝器附散熱蒸發(fā)器（風(fēng)冷式）

控制系統： 可編程觸摸屏溫濕度控制器（7寸彩色屏）

保護裝置： 無(wú)熔絲開(kāi)關(guān)，壓縮機高壓、過(guò)熱、過(guò)流保護，超溫保護，風(fēng)機過(guò)載保護，保險絲

標準配置： 置物架2套，觀(guān)察窗1個(gè)，測試孔1個(gè)，腳輪4個(gè)，

聯(lián)機軟件： 232或USB接口，贈送聯(lián)機軟件

高低溫老化試驗箱主要是通過(guò)模擬產(chǎn)品在不同溫度下的長(cháng)期使用情況，對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性和穩定性測試。下面是高低溫老化試驗箱的方法：1.準備待測的PCB板或電子元器件，根據產(chǎn)品的使用環(huán)境和要求設置測試溫度，一般可設置高溫和低溫兩種溫度。

2.將待測PCB板或電子元器件放置在高低溫老化試驗箱內，注意安排合理的空間，避免不必要的干擾和影響。

3.設置高低溫老化試驗箱的溫度控制系統，根據測試要求設置溫度范圍、溫度升降速率和溫度穩定度等參數。

4.開(kāi)始進(jìn)行高低溫老化試驗，持續一定時(shí)間，一般可根據產(chǎn)品要求設置測試時(shí)間，一般為數天或數周。

5.觀(guān)察和記錄測試過(guò)程中的數據和性能參數，如電阻、電容、電壓、溫度、濕度等指標，以便于后續的數據分析和處理。

6.結束測試后，將測試數據整理和分析，評估產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的可靠性和穩定性，為產(chǎn)品設計和制造提供重要參考。

需要注意的是，在進(jìn)行高低溫老化試驗時(shí)，應嚴格遵守試驗箱的使用說(shuō)明和安全規范，確保測試過(guò)程的安全和穩定。同時(shí)，根據測試要求和實(shí)際情況，可以適當調整試驗參數和時(shí)間，以便于更好地評估產(chǎn)品的可靠性和穩定性。