高低溫沖擊熱流儀工作模式
發(fā)布日期:2024-11-06 點擊:69
【單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)
適用范圍
高低溫沖擊熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
工作原理
1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗;
2、可針對眾多元器件中的某一冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
工作模式
A)2路主空氣管輸出,由分布頭分為8路供氣,帶2套1拖8 系統(tǒng)
B) 2種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
測試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)
主要技術(shù)參數(shù)
設(shè)備型號: HE-ATS750
溫度控制;范圍: -70℃~+250℃
沖擊溫度范圍: -60℃~+200℃
溫度轉(zhuǎn)換時間: ≤10秒
溫度偏差: 測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃
沖擊氣流量: 1.9~8.5L/s(分為8路,每路0.23~1.06 L/s)連續(xù)氣流
溫變速率降: RT+10℃降至-40℃≤60s
試品表面溫度: RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達(dá)到,氣體溫度與樣品溫度可選擇測控
樣品盒尺寸: 直徑140mm×高50mm
制冷方式: 采用風(fēng)冷式HFC環(huán)保制冷劑復(fù)疊系統(tǒng),溫度可達(dá)-70℃
控制系統(tǒng): 采用進(jìn)口智能PLC觸摸屏控制,7寸彩色屏
試品: 帶2套1拖8 系統(tǒng),金屬封裝PCB板模塊8片
外形尺寸: 寬790×高1600×深1080(mm)以實物為準(zhǔn)
使用電源: AC 三相 五線 380V 50/60HZ
噪音: ≤65dB(A聲級)
條件: 風(fēng)冷式環(huán)境溫度在+23℃時
干燥氣源: 用戶自備
注:前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理,產(chǎn)品測試區(qū)及附近無明顯結(jié)露現(xiàn)象。設(shè)備可以連續(xù)運轉(zhuǎn)不需進(jìn)行除霜