半導體芯片高低溫測試機
更新時(shí)間:2019-08-05
半導體芯片高低溫測試機,是汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗。
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一、半導體芯片高低溫測試機性能:
指氣冷式在室溫20℃,空載時(shí)
型號:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容量:
80升內箱尺寸(寬*高*深):400X500X400mm
150升內箱尺寸(寬*高*深):500X600X500mm
225升內箱尺寸(寬*高*深):600X750X500mm
408升內箱尺寸(寬*高*深):600X850X800mm
800升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X800mm
1000升內箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X1000mm
溫度范圍:
A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,
D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃
溫度精度:±0.01℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度均勻度:±2.0℃
濕度范圍:20%RH~98%RH
濕度精度:±0.1%R.H
濕度波動(dòng)度:±2.0%R.H.
濕度均勻度:±3%R.H.
升溫速率:平均3℃/min(非線(xiàn)性、空載時(shí);從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標規格
降溫速度:平均1℃/min(非線(xiàn)性、空載時(shí);從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標規格
二、半導體芯片高低溫測試機控制系統:
LCD 7寸全新真彩液晶觸摸顯示器
控制器規格:
1、參數的設定采用人機對話(huà)方式,僅需觸摸方式輸入溫度,濕度;就可實(shí)現試驗箱自動(dòng)運行功能??纱尜A120個(gè)程序組,每個(gè)程式組可設定100段程式。每段程式可設定運行時(shí)間:99小時(shí)59分鐘,可設定999次循環(huán)(可無(wú)限反復)
2、屏幕顯示:7英寸LCD全新真彩液晶觸摸顯示器
3、設定精度:溫度:0. 1℃ 濕度:1%RH
4、顯示精度:溫度:0. 01℃ 濕度:0.1%RH
5、運行方式:定值運行,程式運行
6、通訊功能:配備標準的RS232C/RS485通訊接口,傳輸距離1.2Km,米通訊速度可達9600bps,可實(shí)現與計算機連接遠程監控,操作方便。
三、制冷系統:
1.壓縮機:全封閉*法國泰康壓縮機
2.制冷方式:?jiǎn)危p)機制冷
3.冷凝方式:強制風(fēng)冷冷卻
4.電磁閥、油分離器、干燥過(guò)濾器、修理閥、冷媒流量視窗均采用進(jìn)口原裝件
四、保養:
1. 試驗室測試布濕更換燈泡
當測試是不干凈的布或硬表面,或完成溫度控制,繼續做度的溫度和濕度對球的控制,必須在考試前更換布。布約3個(gè)月的試驗,以取代1,更換溫度時(shí),身體干凈的布即可,溫度傳感器,更換新的測試應用首先要干凈的布。
2. 濕球溫度和濕度的檢驗室和水調整水平
水管水的水平不太高,水溢水管或吸水率低,以便濕布球試驗是不正常,影響了濕球的準確性,保持約6可以充分水位。水管水位調節,可調節高,低水箱。兩三次,幾乎每次測試需要做的檢查和補充水分。
3. 試驗室超溫保護裝置的檢查
試驗室操作,超溫保護設定zui高值加20℃~30℃。內部測試溫度上升到過(guò)溫保護設定值時(shí),電源的加熱器停止,“過(guò)熱”過(guò)熱jing告燈亮,但風(fēng)扇仍在運行,如果長(cháng)時(shí)間運行和無(wú)人值守,務(wù)必術(shù)前檢查真的過(guò)溫保護,無(wú)論是正確的濕球溫度保護裝置應設置120℃。
4. 清除灰塵試驗箱冷凝器
冷凝器應每月定期保養,使用真空冷卻附著(zhù)在灰塵吸入清潔冷凝器網(wǎng)或使用高壓空氣噴射的塵埃。
5. 試驗室的清洗和維修的外部柜
1)在行動(dòng)中的雜質(zhì)試驗室應當由搬遷之前。
2)配電室每年清洗一次以上,清洗,真空吸塵器,可用于室內灰塵,可吸入。
3)外部燃料箱必須清理一次,一年或更長(cháng)時(shí)間才能清洗可以用肥皂和水清洗。
6. 加濕器的檢查和維修試驗室
加濕器內的水應改為每月一次,以確保潔凈水,加濕器水盤(pán)應每月清洗一次,以確保水流順暢。