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半導體芯片高低溫測試機
半導體芯片高低溫測試機,是汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗。
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智能高低溫交變試驗箱
智能高低溫交變試驗箱,可分為交變試驗、恒溫試驗,兩種試驗方法都是在高低溫試驗箱的基礎上進(jìn)行升級拓展,交變試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時(shí)間設定在儀表參數內,試驗箱會(huì )按照設定走程序,高低溫試驗箱就是在做一個(gè)固定的溫度,使試驗效果更接近自然氣候,模擬出更惡劣的自然氣候,從而使被測樣品的可靠性更高。
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高低溫環(huán)境測試箱
高低溫環(huán)境測試箱,適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車(chē)摩托、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標。
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可編程高低溫濕熱試驗箱
可編程高低溫濕熱試驗箱,就是在溫度的基礎上加濕熱系統,使做溫度的同時(shí)也可以做濕度測試,使試驗效果更接近自然氣候,模擬出更惡劣的自然氣候,從而使被測樣品的可靠性更高。
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高低溫濕熱環(huán)境交變試驗機
高低溫濕熱環(huán)境交變試驗機,也稱(chēng)為濕熱交變試驗機,高低溫濕熱試驗機,高低溫環(huán)境試驗機,高低溫試驗機,濕熱環(huán)境試驗箱。
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